
Introdução do produto
do FT110AÉ uma mesa.XRFAnalisadores projetados para enfrentar os desafios da análise de revestimentos na produção. Forte.XA tecnologia de fluorescência de raios, combinada com a função de posicionamento automático, ajuda a aumentar a produtividade da oficina de galvanização, garantindo ao mesmo tempo que os componentes cumprem altos padrões.
Precisão e confiabilidade apoiam o controle de qualidadeXRFno centro da análise, edo FT110AOferece a precisão necessária para os componentes de galvanização atuais. O sistema de imagem atualizado, o posicionamento automático das amostras e o grande banco de amostras tornam o analisador muito fácil de usar, aumentando o fluxo e reduzindo os erros humanos. Poderosodo FT110AA capacidade de medir simultaneamente até quatro camadas e substâncias ajudará suas instalações a cumprir as mais altas especificações de galvanização do setor, 24 horas por dia.
Características do produto
Projetado para produção de alto fluxodo FT110AComo apoiar o seu controle de qualidade.
Tecnologia poderosa de alta sensibilidade para resultados em segundos
Teste sem danos para a segurança do produto acabado
Automação para aumentar a produtividade
Análise de até quatro camadas e substratos, juntamente com o líquido de galvanização
Fácil de usar por operadores não profissionais
Método de medição conformenorma ISO 3497enorma ASTM B568eDIN 50987
Grandes compartimentos de amostras podem acomodar uma variedade de amostras
Opções personalizadas para o seu aplicativo
parâmetros técnicos
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do FT110A |
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Escala de elementos |
Ti - U |
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Detectores |
Sistema de contador proporcional |
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Projeto de cabine de amostra |
Aberto ou fechado |
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Número de rectificadores |
2 ou4 |
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Rectificador mínimo |
0,025 x 0,4 milímetros |
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XYEscolha da amostra do eixo |
Controle ou fixação |
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XYProcesso de amostra do eixo |
250 x 200 milímetros |
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Controle do programaZPassagem do eixo |
150 milímetros |
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Tamanho máximo da amostra |
500 x 400 x 150 milímetros |
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Foco da amostra |
Laser de foco e foco automático opcional |
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Visualização de amostra |
Visualização da câmera e segunda câmera de ângulo amplo opcional |
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Reconhecimento do ponto de medição |
Opcional |
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Software |
Estação de raios-X |
