Análise rápida e precisa de revestimentos de nanoescala

FT160EscritórioXRFAnalisadores projetados para medir hojePCBpeças pequenas em semicondutores e microconectores. A capacidade de medir peças pequenas com precisão e rapidez ajuda a aumentar a produtividade e a evitar retrabalho caro ou desgaste de componentes.

FT160Os componentes ópticos policapilares podem medir menos do que50 μmCaracterizada por revestimentos de nanoescala, a tecnologia avançada do detector oferece alta precisão, mantendo tempos de medição curtos. Outras funções, como uma mesa de amostras grande, portas de amostras largas, câmeras de amostras de alta definição e janelas de observação robustas, facilitam o carregamento de itens de diferentes tamanhos e a localização de áreas de interesse em substratos grandes. O analisador é fácil de usar, com o seuQA / QCIntegração perfeita dos processos para alertá-lo antes de uma crise ocorrer.

Destaques do produto

FT160As tecnologias ópticas e de detectores são projetadas para análise de micromanchas e revestimentos ultrafinos, otimizadas para características mínimas.

Grande janela de observação para ver análises a uma distância segura

Método de medição conformenorma ISO 3497enorma ASTM B568eDIN 50987padrão

IPC-4552BeIPC-4553AeIPC-4554eIPC-4556Detecção de revestimento de consistência

Localização automática de características para configuração rápida de amostras

Seleção de configuração de analisador otimizada para suas aplicações

Menos do que50 μmCaracterísticas de medição de revestimentos de nanoescala

Duplicar o fluxo de análise dos instrumentos tradicionais

Capaz de acomodar amostras grandes de todas as formas

Projeto durável para uso em produção a longo prazo